qnix4200涂層測(cè)厚儀注意事項(xiàng)

• 更新時(shí)間：2020-01-07
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qnix4200涂層測(cè)厚儀注意事項(xiàng)
QNix 4200 涂層測(cè)厚儀只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，使用簡(jiǎn)單。QNix®4200（含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5）可測(cè)量磁性金屬表面非磁性 涂鍍層厚度。

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qnix4200涂層測(cè)厚儀注意事項(xiàng)

德國(guó)ELEKTROPHYSIK測(cè)厚儀型號(hào)：

ELEKTROPHYSIK 2100  ELEKTROPHYSIK 2100 
ELEKTROPHYSIK 4000  ELEKTROPHYSIK 4000 
ELEKTROPHYSIK 600  ELEKTROPHYSIK 600 
ElektroPhysik 600B  ElektroPhysik 600B 
 

一、德國(guó)QuaNix尼克斯測(cè)厚儀使用應(yīng)該注意哪些事項(xiàng)呢？

磁性測(cè)厚儀主要是利用電磁場(chǎng)在不同厚度的介質(zhì)上的磁場(chǎng)場(chǎng)強(qiáng)的改變，而計(jì)算出其厚度值。因此，任何對(duì)磁場(chǎng)強(qiáng)度的影響都會(huì)直接導(dǎo)致測(cè)量誤差。具體情況有以下幾種：

1.被測(cè)材料自身含磁。有些材料在加工過(guò)程中或一定工藝要求，使被測(cè)材料內(nèi)有剩余磁場(chǎng)。由于其分布不均，所以導(dǎo)致的測(cè)量誤差也不*，會(huì)出現(xiàn)在同一工件上某些部位的測(cè)量值突然變大和變小。

2.被測(cè)材料結(jié)構(gòu)不同，形狀不同。磁場(chǎng)在不同結(jié)構(gòu)的工件上分布會(huì)隨著形狀不同而不同。同樣會(huì)產(chǎn)生測(cè)量誤差。

3.同一材料的不同部位，也會(huì)有可能產(chǎn)生磁場(chǎng)的不同變化。如材料的邊緣同中間區(qū)域，其磁場(chǎng)的分布就不一樣。同樣會(huì)產(chǎn)生測(cè)量誤差。

4.被測(cè)材料的性質(zhì)不同，其磁通量就會(huì)不同，這也是產(chǎn)生誤差的原因之一。

5.材料的大小、薄厚不同，也可以導(dǎo)致測(cè)量誤差。

6.被測(cè)材料表面不夠光滑，也是產(chǎn)生誤差的原因。

以上所述情況都是電磁原理所造成的在實(shí)際工作中產(chǎn)生的誤差。如要解決這些問(wèn)題，應(yīng)遵循相應(yīng)的測(cè)量原則，盡量避免這些誤差。

二、德國(guó)QuaNix尼克斯測(cè)厚儀維護(hù)和維修：

QNix 4200 涂層測(cè)厚儀只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，使用簡(jiǎn)單。QNix®4200（含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5）可測(cè)量磁性金屬表面非磁性 涂鍍層厚度。QNix4200/4500 測(cè)厚儀采用的電子技術(shù),能滿(mǎn)足各種不同的測(cè)量要 求。高精度的設(shè)備,堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點(diǎn)使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。 只要正確使用和維護(hù),它的壽命會(huì)很長(zhǎng)。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與 潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣 體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護(hù)性 和便于挪動(dòng)的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測(cè)量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴 露在強(qiáng)烈的陽(yáng)光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對(duì)大多數(shù)溶劑具有抵抗性, 但不能保證極少數(shù)化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,只有探針保持清潔,才能獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),所 以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長(zhǎng)期不被使用時(shí), 為 避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時(shí),請(qǐng)不要自行修理,我們的維修部門(mén) 隨時(shí)竭誠(chéng)為您服務(wù)。 產(chǎn)品從購(gòu)買(mǎi)之日起保修一年，紅寶石磨損及其他人為因素造成儀器損壞不予 保修。

三、qnix4200涂層測(cè)厚儀主要技術(shù)特點(diǎn)：

零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量
無(wú)需校準(zhǔn)：多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿(mǎn)足全范圍內(nèi)的線(xiàn)性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù)：使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。
詳細(xì)描述：測(cè)量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層，如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁等；